城大图书馆历年试卷
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电子显微镜
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本课程以现代电子显微镜技术为基础,介绍电子束微镜分析的理论和实践方面,包括扫描电子显微镜(SEM),传输电子显微镜(TEM)和X射线能量分散光谱(XEDS).
中文名称与简介为机器辅助译文,尚待人工校对,以官方英文资料为准。
This course introduces the theoretical and practical aspects of electron-beam microanalysis based on modern electron microscopy techniques, including Scanning Electron Microscopy (SEM), Transmission Electron Microscopy (TEM) and X-Ray Energy Dispersive Spectroscopy (XEDS).
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